Цифровой модуль PIN-электроники Р128С200М

• Высокое число измерительных каналов;
• Высокие значения частоты функционального контроля, скорости приема/передачи данных, объема памяти векторов/ошибок;
• Поддержка синхронизации группы модулей в стандарте AXIe-1;
• Управление по PCIe×4 Gen2;
• Возможность работы в 4-х частотных доменах;
• Универсальный режим генераторов тестов и режим для контроля записывающих устройств;
• Режим сканирования;

Цифровой модуль P128C200M, первый российский прибор PIN-электроники, реализованный в открытом стандарте AXIe-1.
Модуль P128C200M обеспечивает измерение и контроль параметров интегральных микросхем с применением методов параметрических измерений, а также функционального и алгоритмического контроля. В модуле реализована система синхронизации, обеспечивающая работоспособность группы модулей при их установке в крейт AXIe-1.
Методы параметрических измерений реализованы на базе специальных измерителей PPMU, обеспечивающих формирование и измерение параметров электрических сигналов постоянного тока. Каждый канал модуля содержит свой независимый PPMU, в силу чего на всех каналах модуля обеспечен параллельный (одновременный) контроль параметров постоянного тока. 
При параметрических измерениях на сигнальных выводах микросхем, модуль обеспечивает:

• формирование программируемой величины постоянного напряжения и измерение постоянного напряжения и силы постоянного тока (режимы FVMV, FVMI);
• формирование программируемой величины силы постоянного тока в 5-ти диапазонах и измерение постоянного напряжения и силы постоянного тока (режимы FIMV, FIMI);
• измерение величины постоянного напряжения в отключенном состоянии (режим FNMV);
• ограничение величины постоянного напряжения по двум независимым программируемым уровням, в режимах FIMI, FIMV;
• ограничение величины силы постоянного тока, по двум независимым программируемым уровням, в каждом диапазоне силы тока, в режимах FVMV, FVMI

Методы функционального контроля реализованы на базе генераторов тестов и устройств PIN-электроники, обеспечивающих формирование и контроль векторной последовательности импульсных сигналов, а также измерение динамических параметров микросхем. Генераторы тестов и устройства PIN-электроники программируются независимо для каждого канала и могут работать в разных частотных доменах (до 4-х доменов на модуль) и режимах формирования тестовой последовательности (универсальный и алгоритмический режимы). Дополнительно, генератор тестов обеспечивает режим сканирования и увеличение (мультиплицирование) максимальной длины векторной последовательности, за счет перераспределения памяти тестов между каналами. 
При функциональном контроле и измерении динамических параметров на сигнальных выводах микросхем, модуль обеспечивает:

• формирование драйверами каналов  векторной последовательности импульсных сигналов с программируемыми уровнями напряжений (нижний, средний, верхний и высоковольтный уровни), крутизной фронта и среза сигнала и метками времени переключения между уровнями напряжений (временные метки D0, D1, D2);
• контроль компараторами каналов состояния сигналов в векторах за счет сравнения уровней напряжений сигналов в векторах с программируемыми уровнями напряжений компараторов в заданные моменты времени (временные метки R0, R1);
• программируемое подключение при контроле сигнала и отключение при формировании сигнала динамической активной нагрузки, с программируемыми уровнями силы положительного тока, силы отрицательного тока и напряжения переключения;
• программируемое подключение при контроле сигнала и отключение при формировании сигнала динамических ограничителей напряжения на каналах с программируемыми напряжениями верхнего и нижнего уровней;

Модульное исполнение в соответствии со стандартом AXIe-1, высокое число измерительных каналов и их прецизионные характеристики, позволяют проводить измерения и контроль параметров достаточно большой области интегральных микросхем на базе одного модуля в составе крейта AXIe-1. Система синхронизации модуля, построенная с учетом сигналов и функций стандарта AXIe-1, позволяет создавать системы автоматического тестового оборудования на базе группы модулей и воздушном охлаждении, для измерений и контроля микросхем с большим количеством сигнальных выводов. Унифицированное программное обеспечение позволяет производить автоматизированные процессы диагностики и калибровки всех параметров прибора, а также обеспечивает выполнение всех процессов измерения и контроля параметров при испытаниях интегральных микросхем.
Перечисленные функциональные возможности и характеристики прибора превосходят отечественные аналоги и сопоставимы с зарубежными изделиями.